。 。 。 。 。 。測量是指確定被測物體大小的實驗過程 電子測量是測量的一個重要分支。它是指以電子技術(shù)為理論基礎(chǔ)，以電子測量設(shè)備和儀器為工具測量各種電量。 本章是理論性的。如果讀者閱讀有困難，他們可以跳過這一章，不影響對以下內(nèi)容的學習。  。 。 。 。 。 。用萬用表測量市電電壓的大小，用示波器測量信號的波形都屬于電子的測量范圍。電子的測量范圍很廣，主要包括以下內(nèi)容  。 。 。 。 。 。1.基本電量的測量。 。 。 。 。 。基本電量的測量包括電壓、電流和功率等的測量。  。 。 。 。 。 。2.電信號波形和特性的測量。 。 。 。 。 。通過測量電信號的波形，可以直觀地觀察到各種電信號的波形。電信號特性的測量包括各種電信號的幅度、頻率、相位、周期和失真的測量。  。 。 。 。 。 。3.電路元件參數(shù)的測量。 。 。 。 。 。電路元件參數(shù)的測量包括電阻、電容、電感等參數(shù)的測量(如晶體管放大系數(shù)、電感品質(zhì)因數(shù)值等)。)  。 。 。 。 。 。4.電路特性的測量。 。 。 。 。 。電路特性的測量包括對電路衰減、增益、靈敏度和通帶的測量。  。 。 。 。 。 。1.2.1靜態(tài)測量和動態(tài)測量。 。 。 。 。 。靜態(tài)測量和動態(tài)測量是根據(jù)測量過程中被測物體是否隨時間變化來區(qū)分的。前者是指當被測電路不添加輸入信號或僅添加不隨時間變化的信號時，對放大器靜態(tài)工作點的測量。后者指的是在測量(例如放大器增益的測量)過程中要添加到被測電路的時變輸入信號。  。 。 。 。 。 。1.2.2直接測量和間接測量。 。 。 。 。 。1.直接測量。 。 。 。 。 。使用根據(jù)已知標準校準的電子儀器直接測量數(shù)據(jù)的方法稱為直接測量法。 例如，用電壓表測量交流電源電壓等。9下面的例子說明了直接測量方法的應用。如圖1-1a所示，如果你想知道流過燈泡的電流大小，你可以在b點斷開電路，然后在斷開的兩端分別連接電流表的兩個探頭。當電流流過電流表時，電流表將顯示電流的大小。  。 。 。 。 。 。應當注意，直接測量并不意味著直接讀數(shù)儀器用于測量。雖然許多比較儀器可能無法直接從儀器的刻度盤獲得測量值，但測量仍然是直接的，因為參與測量的對象是被測量的對象。 一般來說，直接測量法具有很高的精確度。 R2。間接測量。 。 。 。 。 。使用根據(jù)已知標準校準的電子儀器，不直接測量測量值，而是直接測量與測量值具有一定函數(shù)關(guān)系的一個或幾個物理量，然后通過函數(shù)關(guān)系計算測量值。這種測量方法稱為間接測量法。 例如，為了測量電阻器的消耗功率，可以通過直接測量電壓和電流或者測量電流和電阻器來獲得電阻器的功率，然后根據(jù)p = UI = i2r = U2/r 下面的例子說明了間接測量方法的應用，如圖1-1b所示。如果你想知道流經(jīng)燈泡的電流大小，你可以用電壓表測量電阻R兩端的電壓U，然后你可以根據(jù)歐姆定律(I=U/R)找到電流大小(注:電阻的電阻值是已知的)  。 。 。 。 。 。類似地，可以通過如圖1-1a所示的直接測量方法或者如圖1-1b所示的間接測量方法來測量電路的電流。圖1-1a中的直接測量方法可以直接讀取被測物體的大小，但是需要斷開電路，而圖1-1b中的間接測量方法不需要斷開電路，這相對方便，但是需要在測量之后通過歐姆定律來計算。  。 。 。 。 。 。直接測量法和間接測量法沒有區(qū)別。進行電子測量時，應根據(jù)實際情況選擇哪種方法  。 。 。 。 。 。有些測量需要直接和間接測量的組合，稱為組合測量 例如，測量的量和其他量形成聯(lián)立方程，并且通過直接測量這些量zui然后求解聯(lián)立方程來獲得測量的尺寸  。 。 。 。 。 。1.2.3直讀測量和比較測量。 。 。 。 。 。直讀測量是一種直接從儀表刻度盤上讀取測量結(jié)果的方法。 例如，電壓通常用電壓表測量，信號頻率用頻率計測量等。是直接讀數(shù)測量方法。 這種方法是根據(jù)儀器儀表的讀數(shù)來判斷測量尺寸。該方法簡便易行，應用廣泛。  。 。 。 。 。 。比較測量法(Comparative measurement method)是在測量過程中通過直接將測量數(shù)據(jù)與標準進行比較來獲得測量結(jié)果的方法。橋梁就是一個典型的例子。它使用標準電阻(電容、電感)來測量測量數(shù)據(jù)。  。 。 。 。 。 。1.2.4測量方法的選擇。 。 。 。 。 。使用正確的測量方法，可以獲得比較測量結(jié)果，否則測量數(shù)據(jù)會不準確或錯誤，甚至損壞測量儀器或被測設(shè)備和部件等。 例如，當僅用萬用表的xl檔測量低功率晶體管的發(fā)射極結(jié)電阻時，由于儀表的內(nèi)阻小，注入晶體管基極的電流過大，結(jié)果晶體管在使用前的測試過程中可能會損壞。  。 。 。 。 。 。選擇測量方法時，首先應考慮被測對象本身的特性、環(huán)境條件、所需程度和測量設(shè)備等因素。綜合考慮后，應正確選擇正確的測量方法、測量設(shè)備和合理的測量程序，才能順利獲得正確的測量結(jié)果。

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